X熒光光譜儀成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域的檢測設(shè)備，大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，X熒光光譜儀 具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。

　　X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結(jié)果的干擾，從而能確保對任何塑料樣品的進(jìn)行快速準(zhǔn)確的分析。當(dāng)某些元素的電子由高等級向低等級越遷時(shí)釋放的能量相近，會使此時(shí)譜圖的波峰重疊在一起，由此產(chǎn)生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發(fā)的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。

　　X熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)：

　　1、分析速度快。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。

　　2、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定。

　　3、非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

　　4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

　　5、分析精密度高。目前含量測定已經(jīng)達(dá)到ppm級別。

　　6、X熒光光譜儀制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。